探傷儀對缺陷方面的顯示方法「小知識」

　　探傷儀常用X射線探傷儀和同位素發(fā)射的γ射線，分別稱為X射線探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過一種物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線的強(qiáng)度越弱，也就是說，能穿透該物質(zhì)的射線的強(qiáng)度越小。這時(shí)，如果用攝影膠片來接收，膠片的感光量就會小；如果用儀器接收，得到的信號會很弱。因此當(dāng)用射線照射被探傷儀損傷的零件時(shí)，如果零件中存在氣孔、夾渣等缺點(diǎn)，則射線通過缺點(diǎn)路徑透射的材料密度比沒有缺點(diǎn)的材料密度小得多，其強(qiáng)度減弱較小，即透射強(qiáng)度較大，如果零件被負(fù)片接收，則感光度較大，從而可以從負(fù)片上反射出垂直于射線方向的缺點(diǎn)的平面投影。如果使用其他接收設(shè)備，也可以使用儀器來反射垂直于射線方向的缺點(diǎn)的平面投影和射線透射量。
　　如果超聲頻率高，傳播線性強(qiáng)，在固體中容易傳播，遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面容易反射，可以用于探傷。探頭可以向工件發(fā)射信號，并能接收從界面反射的超聲波，同時(shí)將其轉(zhuǎn)換成其他信號，再傳送到儀器進(jìn)行處理。根據(jù)超聲波在介質(zhì)中的傳播速度和傳播時(shí)間，可以知道缺點(diǎn)的位置。
　　探傷儀顯示缺陷的方式很多，有的用磁粉顯示，有的不用磁粉顯示。先對該設(shè)備有正確的了解，合理的進(jìn)行治理并且能夠正確的使用才能得出正確結(jié)論。如有其它問題，歡迎前來致電。